光學(xué)三維掃描設(shè)備ATOS 5的優(yōu)勢(shì)：

滿(mǎn)足工業(yè)需求的多功能掃描儀

由于采用了先*的相機(jī)技術(shù)、強(qiáng)大的光源和高性能軟件，ATOS 5的性能達(dá)到了全新的水平，尤其是在測(cè)量光亮和暗淡的表面、精細(xì)結(jié)構(gòu)和邊緣時(shí)。該技術(shù)加快了總測(cè)量時(shí)間，同時(shí)提供準(zhǔn)確的三維測(cè)量數(shù)據(jù)。

快速測(cè)量

可變系統(tǒng)

全面的流程和質(zhì)量控制

全場(chǎng)三維掃描

ATOS 5加快了檢測(cè)過(guò)程。無(wú)論是光亮或黑暗表面，該系統(tǒng)均能提供較短的曝光時(shí)間。由于測(cè)量區(qū)域大，光學(xué)三維掃描儀的掃描速度更快，可快速獲取三維數(shù)據(jù)，從而提高生產(chǎn)率。高精度

為工業(yè)使用開(kāi)發(fā)

ATOS 5可滿(mǎn)足工業(yè)用戶(hù)的高計(jì)量要求。即使在惡劣的條件下，該系統(tǒng)也能提供絕對(duì)可溯源的測(cè)量數(shù)據(jù)。ATOS 5采用立體相機(jī)設(shè)置，包括一個(gè)由傳感器控制的內(nèi)置可靠性監(jiān)視器，用于測(cè)量。我們的內(nèi)置軟件可為您提供有關(guān)標(biāo)定狀態(tài)、測(cè)量精度、環(huán)境變化和部件移動(dòng)的持續(xù)反饋。用途廣泛的多面手

為您的需求量身定制

選擇ATOS 5，將靈活性與準(zhǔn)確性合二為一。無(wú)論是在車(chē)間還是在測(cè)量室，無(wú)論是手動(dòng)還是自動(dòng)，該系統(tǒng)都能處理復(fù)雜的檢測(cè)任務(wù)。在測(cè)量室中固定使用，或是在生產(chǎn)中移動(dòng)使用，其均能滿(mǎn)足您的需求。如您希望提高批量生產(chǎn)的效率，ATOS 5可在標(biāo)準(zhǔn)化ScanBox測(cè)量機(jī)內(nèi)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)質(zhì)量控制。性能提升

圖形卡加速測(cè)量

蔡司INSPECT軟件充分利用圖形卡的計(jì)算能力。由于GPU擁有大量?jī)?nèi)核，因此單個(gè)掃描的處理速度更快。這大大縮短了總測(cè)量時(shí)間。結(jié)合其強(qiáng)大的光源和攝像技術(shù)，ATOS 5通過(guò)這種GPU加速達(dá)到了一個(gè)全新的性能水平。利用攝影測(cè)量進(jìn)行擴(kuò)展

用于大型復(fù)雜部件

內(nèi)置TRITOP光學(xué)攝影測(cè)量系統(tǒng)，提升測(cè)量能力。作為ATOS 5的擴(kuò)展，這款便攜式解決方案在捕捉參考點(diǎn)場(chǎng)方面表現(xiàn)出色，是檢測(cè)大型復(fù)雜部件的理想之選。利用這些參考點(diǎn)，ATOS 5可自動(dòng)轉(zhuǎn)換單個(gè)測(cè)量值，確保測(cè)量的高精度。

ATOS技術(shù)

光學(xué)三維掃描設(shè)備ATOS 5使用結(jié)構(gòu)藍(lán)光進(jìn)行非接觸測(cè)量。單次測(cè)量由多達(dá)1200萬(wàn)個(gè)獨(dú)立測(cè)量點(diǎn)組成。根據(jù)您的要求確定精度、分辨率和測(cè)量區(qū)域的大小。這不僅使復(fù)雜、精細(xì)的部件具有高分辨率，還確保了大型部件的快速數(shù)字化。

測(cè)量變量

三維坐標(biāo)

三維位移

三維變形

三維速度和加速度

表面膨脹

用于模擬的材料特性（彈性模量等） 6個(gè)自由度的評(píng)估（6DoF）

測(cè)試準(zhǔn)備省時(shí)省力 蔡司三維測(cè)試產(chǎn)品組合的光學(xué)傳感器可無(wú)接觸測(cè)量靜態(tài)或動(dòng)態(tài)裝載的試樣和部件，不受材料影響，無(wú)需對(duì)測(cè)試對(duì)象進(jìn)行耗時(shí)且昂貴的準(zhǔn)備工作。可省去或大大減少應(yīng)變計(jì)、LVDT或加速度傳感器等傳統(tǒng)傳感器的安裝。除了在準(zhǔn)備過(guò)程中節(jié)省時(shí)間外，光學(xué)傳感器還為下游測(cè)試評(píng)估提供了更大的數(shù)據(jù)庫(kù)。

對(duì)大型和小型物體進(jìn)行高精度測(cè)量

統(tǒng)為分析從幾毫米到幾米結(jié)構(gòu)部件的試樣提供了穩(wěn)定的解決方案。無(wú)論試樣的幾何形狀和溫度如何，測(cè)量分辨率均能達(dá)到亞微米級(jí)。